非晶纳米晶合金带材叠片系数测试测厚仪

非晶纳米晶合金带材叠片系数测试测厚仪 FTT-01

非晶带材的质量和应用效果主要有两个关键指标，叠片系数和厚度。

叠片系数简单地说就是变压器叠片铁芯的有效面积系数，叠片系数越高，铁芯的有效面积越大，使磁通密度减少，损耗降低。在制造过程中，硅钢片搭片、错片、毛刺、弯曲等缺陷会导致叠片系数降低，从而导致变压器性能降低，严重的如过大的毛刺会使片间短路，铁心的涡流损耗增加。

非晶带材厚度一般在20μm-30μm，叠片时厚度偏差的放大效应更明显，导致叠片系数低，因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。另外，按照国家标准GB/T 19345-2003非晶纳米晶软磁合金带材的规定，非晶带材厚度偏差为同一炉带材沿长度方向的厚度的±10%以内，在宽度方向的厚度偏差应在±2μm。

试样准备

试样应无折皱，明显翘起等缺陷。

试样的制取和数量根据测试要求确定。

实验步骤

1.将准备好的试样固定在测试台上，点击气动夹持试样按钮，夹紧试样。

2.操作触摸屏，点击实验进入参数设置界面，设置测量时间，每个测试点间距，测试点数参数。

3.操作触摸屏，点击实验按钮，仪器自动根据设置的参数进行测量，并显示终厚度和叠片系数的测试结果。

非晶纳米晶合金带材叠片系数测试测厚仪

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